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儀器名稱：銳影X射線衍射儀
型 號：EMPYREAN
生產(chǎn)廠家：荷蘭PANalytical（帕納科）公司
主要技術(shù)參數(shù)：
X射線發(fā)生器和機柜：
最大輸出功率： 4kW
最大管壓： 60kV，1mV/步, 機柜同步數(shù)字顯示
最大管流： 60mA，1mA/步,機柜同步數(shù)字顯示
電源穩(wěn)定度： 0.005% ( 外 電 源 變 化10％)
X射線防護標準： ￡1mS/h (10cm距離)
金屬陶瓷X光管：
最大功率: 2.2kW (Cu靶)
最大管壓： 60kV
最大管流： 60mA
焦斑： 12x0.4mm長細焦斑
測角儀:
掃描方式: q/q 方式
角度重現(xiàn)性： +/- 0.0001°
最小可控步長： 0.0001°,，可以停止在任何規(guī)定角度
編碼方式：雙光學編碼
測角儀半徑： 240mm
光學編碼：直接光學定位（DOPS2）
馬達驅(qū)動：直流馬達
整機重現(xiàn)性： 0.001°
探測器：
PIXcel3D 全能矩陣探測器
計數(shù)矩陣： 256x256 pixcel
像素大?。?55mmx55mm
動態(tài)范圍： 1x1010cps
97%線性范圍： 2.5 x109cps
最大靜態(tài)掃描范圍： 5.0°
最小背景： 0.5 cps（全探測器）
工作方式： 0維（點探測器），1維（陣列探測器模式）,，2維（面探測器模式）,，
3維（CT探測器模式）
保證分辨率： 0.028°
主要用途：
藥物晶型及結(jié)晶度方面的應用分析
各類無機物、有機物（甚至液體）的定性,、無標定量分析
薄膜材料,、介孔材料的小角衍射分析
納米材料的小角散射及晶粒大小測定
晶胞參數(shù)、晶格畸變的精確測定
